| 发明名称 | 多层印刷电路板的对准度及涨缩程度的量测构造 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种多层印刷电路板的对准度及涨缩程度的量测构造，主要包含四透光区，其分别设置于一多层印刷电路板的各单层板的中心往外水平延伸的四个方位上；及数个位置标记，其位于各透光区内并具有数字、符号，且供分别代表各种相对位置的顺序。从而，具有非破坏性的快速量测多层电路板的实际对准度、层别顺序及涨缩程度的功效。 | ||
| 申请公布号 | CN2587131Y | 申请公布日期 | 2003.11.19 |
| 申请号 | CN02282419.7 | 申请日期 | 2002.10.25 |
| 申请人 | 楠梓电子股份有限公司 | 发明人 | 许庆伟;杨嘉琪;欧玉金 |
| 分类号 | H05K3/46 | 主分类号 | H05K3/46 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 曹广生 |
| 主权项 | 1、一种多层印刷电路板的对准度及涨缩程度的量测构造，其特征是：主要包含四透光区，其分别设置于一多层印刷电路板的各单层板的中心往外水平延伸的四个方位上；及数个位置标记，其位于各透光区内并具有数字、符号，且供分别代表各种相对位置的顺序。 | ||
| 地址 | 台湾省高雄市 | ||