| 发明名称 | 用于识别光学记录介质类型的方法和装置 | ||
| 摘要 | 提供一种用于识别光学记录介质类型的方法和装置。该方法包括在使用第一光学系统执行聚焦搜索时检测光学记录介质的表面反射信号S<SUB>S</SUB>和可写入表面反射信号S<SUB>R</SUB>，计算表面反射信号S<SUB>S</SUB>的高峰和低谷之间的时间差DT<SUB>S</SUB>，计算表面反射信号的高峰和可写入表面反射信号S<SUB>R</SUB>的高峰之间的时间差DT<SUB>R</SUB>，将DT<SUB>R</SUB>和DT<SUB>S</SUB>代入下列等式获得DT∶DT＝(DT<SUB>R</SUB>)<SUP>a</SUP>/(DT<SUB>S</SUB>)<SUP>b</SUP>(a－b≥1/2)，并且将DT与参考时间T相比较，如果DT大于T，驱动第一光学系统，如果DT不大于T，驱动第二光学系统。 | ||
| 申请公布号 | CN1455405A | 申请公布日期 | 2003.11.12 |
| 申请号 | CN03123086.5 | 申请日期 | 2003.04.30 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金钟烈;成平庸;郭鲁俊;全喆浩;尹麒凤;崔奉涣 |
| 分类号 | G11B19/12;G11B7/00 | 主分类号 | G11B19/12 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
| 主权项 | 1.一种用于识别光学记录介质类型的方法，当使用第一光学系统执行聚焦搜索时，检测光学记录介质的表面反射信号SS和可写入表面反射信号SR；计算表面反射信号SS的高峰和低谷之间的时间差DTS；计算表面反射信号的高峰和可写入表面反射信号SR的高峰之间的时间差DTR；通过将DTR和DTS代入下列等式获得DT：DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)，并且将DT与参考时间T相比较；和如果DT大于T，驱动第一光学系统，如果DT不大于T，驱动第二光学系统。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||