发明名称 定値逻辑数値扫描测试操纵电路及方法及定値逻辑数値操纵扫描测试装置
摘要 本发明揭示一种在正常操作期间维持逻辑数值为定值及在扫描测试操作期间促进逻辑数值之操纵的系统与方法。在一具体实施例中,本发明系为一种包括组合电路、定值逻辑数值扫描测试操纵电路、以及测试扫描元件的定值逻辑数值操纵扫描测试链。组合电路于正常模式期间执行功能性的操作。定值逻辑数值扫描测试操纵电路堤供逻辑数值输出,该逻辑数值输出于正常操作期间维持定值,并于扫描测试操作期间根据扫描测试输入资讯而改变。扫描测试元件传输测试向量到功能性组件,并与所利用的功能性逻辑交互作用,以执行正常操作。在本发明之一示范性实施中,组合电路系为逻辑闸,而由定值逻辑数值扫描测试操纵电路所输出的逻辑数值则耦合逻辑闸之输入。输入到逻辑闸的逻辑数值在正常操作期间会维持定值,且在扫描测试操作期间根据扫描测试输入资讯而操纵。
申请公布号 TW561270 申请公布日期 2003.11.11
申请号 TW090129191 申请日期 2001.11.26
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 雷杰维 赛西亚
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种定値逻辑数値扫描测试操纵电路,包含:一适于储存扫描测试输入逻辑数値的扫描正反器(301);一耦合该扫描正反器的扫描测试输入(304),该扫描测试输入适合于传输一扫描测试输入信号;一耦合该扫描正反器的扫描测试输出(305),该扫描测试输出适合于传输一扫描测试输出信号;一耦合该扫描正反器的逻辑数値产生电路(302),该逻辑数値产生电路适合于在正常操作模式期间确保逻辑数値维持定値,并在根据储存在该扫描正反器里的该扫描测试输入逻辑数値的扫描测试操作模式期间提供该逻辑数値之操纵;一耦合该逻辑数値产生电路的扫描测试模式输入(303),该扫描测试模式输入适合于传输一扫描测试模式信号,以导引该逻辑数値产生电路何时以扫描测试模式操作及何时以正常操作模式操作;以及一耦合该逻辑数値产生电路的逻辑数値输出(307),该逻辑输出适合于传输该逻辑数値。2.如申请专利范围第1项之定値逻辑数値扫描测试操纵电路,包含耦合该逻辑数値产生电路的复数个逻辑数値输出(307与308)。3.如申请专利范围第2项之定値逻辑数値扫描测试操纵电路,其中该逻辑数値产生电路包括:一AND(及)闸(421),其系适用于当不以扫描测试模式操作时,提供定値之第一逻辑数値于第一逻辑数値输出上,而不顾储存于该扫描正反器中的逻辑数値,并且于扫描测试操作期间,根据该扫描正反器之输出而改变该第一数値输出上的逻辑数値;一耦合该AND(及)闸的OR(或)闸(423),该OR(或)闸适合于当以扫描测试模式操作时,提供定値之第二逻辑数値于第二逻辑数値输出上,而不顾储存于该扫描正反器中的逻辑数値,并且在扫描测试操作期间,根据该扫描正反器之输出来改变该第二逻辑数値输出上的该第二逻辑数値;以及一NOT(反)闸(422),其适合于确保该第二逻辑数値为相反于该第一逻辑数値。4.如申请专利范围第1项之定値逻辑数値扫描测试操纵电路,其中当该扫描测试模式信号(525)为确认时,该逻辑数値产生电路以扫描测试模式来操作。5.如申请专利范围第1项之定値逻辑数値扫描测试操纵电路,其中该逻辑数値输出耦合一正常操作组合电路(530)的输入。6.如申请专利范围第1项之定値逻辑数値扫描测试操纵电路,其中该逻辑数値输出耦合一逻辑闸(581)的输入。7.一种定値逻辑数値操纵扫描测试装置,包含:一适合于在正常模式期间执行功能性操作的组合电路(530);一耦合该组合电路之定値逻辑数値扫描测试操纵电路(221),该定値之逻辑数値扫描测试操纵电路适于提供一逻辑数値输出,该逻辑数値输出在正常操作期间维持定値,并且于扫描测试操作期间,根据扫描测试输入资讯而改变;以及一耦合该定値逻辑数値扫描测试操纵电路的扫描测试元件(225),该扫描测试元件适合于传输测试向量到功能性组件,并与所利用的功能性逻辑交互作用,以执行正常操作。8.如申请专利范围第7项之定位逻辑数値操纵扫描测试装置,其中一扫描测试模式信号(210)导引该定値逻辑数値扫描测试操纵电路以及该扫描测试元件,以操作扫描测试模式或正常操作模式。9.如申请专利范围第7项之定値逻辑数値操纵扫描测试装置,其中该定値逻辑数値扫描测试操纵电路系如申请专利范围第1项所定义的。10.一种定値逻辑数値扫描测试操纵方法,包含如下步骤:导引耦合组合逻辑(530)的扫描测试电路(510)以于正常功能模式中操作;提供逻辑数値(511)到该组合逻辑的输入;维持该逻辑数値在正常操作期间为定値;放置耦合该组合逻辑之该扫描测试电路在扫描测试操作模式中;以及于测试操作期间,操纵提供到该组合逻辑之输出的该逻辑数値。11.如申请专利范围第10项之定値逻辑数値扫描测试操纵方法,进一步包含利用扫描测试模式信号(525)来导引该扫描测试电路以于正常功能模式或扫描测试模式中操作的步骤。12.如申请专利范围第10项之定値逻辑数値扫描测试操纵方法,其中该扫描测试电路系为定値之逻辑数値扫描测试操纵电路(510)。13.如申请专利范围第10项之定値逻辑数値扫描测试操纵方法,其中该逻辑数値系供应到逻辑闸(581)的输入。14.如申请专利范围第10项之定値逻辑数値扫描测试操纵方法,其中根据扫描测试输入信号(521)而操纵提供到该组合逻辑之该输入的该逻辑数値。15.如申请专利范围第10项之定値逻辑数値扫描测试操纵方法,进一步包含在测试操作期间利用该逻辑数値输入以促进逻辑闸(581)之输入控制的步骤。图式简单说明:图1系为包括连接至特定逻辑输入数値的逻辑闸之传统IC的方块图;图2系为显示本发明之一具体实施例之定値逻辑数値操纵扫描测试链的方块图;图3系为本发明之一具体实施例之定値逻辑数値扫描测试操纵电路的方块图;图4系为包括在本发明逻辑数値产生电路之一具体实施例中之逻辑数値产生电路的方块图;图5系为显示本发明扫描测试可控连接闸输入系统之一具体实施例的方块图;图6系为显示提供逻辑数値的粒状控制之本发明扫描测试可控连接闸输入系统之一具体实施例的方块图;图7系为显示本发明方法之一实施例的流程图。
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