发明名称 Grabenisolationsprozesse unter Verwendung einer Polysilizium-unterstützten Füllung
摘要 Offenbart wird ein Verfahren zum gleichzeitigen Bereitstellen von Grabenisolationen für den Arraybereich und den Hilfsbereich eines aus einem Substratmaterial hergestellten Halbleitersubstrats, wobei das Verfahren folgendes umfaßt: Bereitstellen einer ersten Hartmaskenschicht für den Arraybereich und den Hilfsbereich, wobei die erste Hartmaske Maskenöffnungen umfaßt, die Grabenisolationen im Arraybereich und im Hilfsbereich definieren, Bereitstellen von tiefen Arraygrabenisolationen in den Arraybereichen, Bereitstellen einer zudeckenden, planarisierten Schicht aus einem leitenden Material sowohl über den Hilfsbereich als auch dem Arraybereich, das ausreicht, um die Maskenöffnungen und die tiefen Arraygrabenisolationen zu füllen, Ätzen des leitenden Materials durch das erste Hartmaskenmaterial bis hinunter in die Halbleitersubstrate, um Hilfsgrabenisolationen zu bilden, so daß sowohl tiefe Arraygrabenisolationen als auch Hilfsgrabenisolationen gleiche Tiefe aufweisen und wobei ein leitendes Element, das eine Menge des leitenden Materials umfaßt, im unteren Teil jedes der tiefen Arraygräben zurückbleibt.
申请公布号 DE10307822(A1) 申请公布日期 2003.11.06
申请号 DE2003107822 申请日期 2003.02.24
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK;INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KNORR, ANDREAS;DIVAKARUNI, RAMACHANDRA;BEINTNER, JOCHEN;MANDELMAN, JACK
分类号 H01L21/762;H01L21/763;H01L21/8239;(IPC1-7):H01L21/762 主分类号 H01L21/762
代理机构 代理人
主权项
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