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发明名称 Erfassung von Strahldüsenfehlern durch optisches Abtasten eines Probemusters
摘要
申请公布号 DE69810526(T2) 申请公布日期 2003.11.06
申请号 DE19986010526T 申请日期 1998.03.03
申请人 HEWLETT-PACKARD CO. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE), PALO ALTO 发明人 ARMIJO, CHRIS T.;GASTON, GONZALO;LAGARES, JAVIER;GIL, ANTONI;GUERRERO, FRANCISCO;SUBIRADA, FRANCESC
分类号 B41J2/01;B41J2/165;(IPC1-7):B41J2/165 主分类号 B41J2/01
代理机构 代理人
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