摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zum automatischen Abgleich von Einstellelemente aufweisenden Einrichtungen sowie ein entsprechendes Computerprogramm-Erzeugnis und computerlesbares Speichermedium. Es ist vorgesehen, dass der Abgleich folgende Schritte umfasst: a) Durchführung einer ersten Messung einer durch den Abgleich zu regelnden Kennkurve in vorgegebenen Messpunkten, wobei die Einstellelemente eine erste Einstellung, die "Referenzeinstellung", einnehmen, b) Test einer Abbruchbedingung und Abbruch des Verfahrens bei Erfüllung dieser Bedingung, Ausführung der nachfolgenden Schritte bei Nichterfüllung der Abbruchbedingung, c) Abänderung der Referenzeinstellung eines Einstellelements und erneute Messung der Kennkurve in vorgegebenen Messpunkten für diese Konfiguration der Einstellelemente, d) Wiederherstellung der Ausgangsreferenzeinstellung des in Schritt c) abgeänderten Einstellelements, e) bei Vorhandensein mehrerer Einstellelemente Wiederholung der Schritte c) und d) für jedes Einstellelement, f) Berechnung einer Gradientenfunktion der Kennkurve, g) Berechnung neuer Einstellungen der Einstellelemente durch Minimierung einer Fehlerfunktion unter Benutzung von in den Schritten a) und c) gewonnenen Messwerten und der in Schritt f) berechneten Gradientenfunktion, sowie h) erneute Durchführung des Verfahrens, beginnend mit Schritt a), wobei die in Schritt g) berechneten Einstellungen als neue "Referenzeinstellung" dienen.
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