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发明名称 Inspection method and device for detecting defect.
摘要
申请公布号 ZA200208982(B) 申请公布日期 2003.11.05
申请号 ZA20020008982 申请日期 2002.11.05
申请人 NGK INSULATORS, LTD. 发明人 AKIO ENOMOTO;KOUICHI MIYASHITA
分类号 F01N;G01M;G01N 主分类号 F01N
代理机构 代理人
主权项
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