发明名称 绝缘体上硅传输门干扰的解决方法
摘要 N型MOSFET的SOI传输门干扰的解决方法,在FET的栅与体之间连接电阻器以消除干扰状态。此FET制造在衬底中,具有源、漏和栅,场效应晶体管的体是电浮置的,且基本上与衬底电隔离。提供了将FET的电浮置体耦合到栅的高阻通路,致使当栅处于低位时,在能够出现明显的热充电之前,体向低态放电,从而防止了当晶体管处于关断时电荷在体上的积累。高阻通路的电阻最好约为10<SUP>10</SUP>Ωμm除以传输门的宽度。
申请公布号 CN1127149C 申请公布日期 2003.11.05
申请号 CN99118748.2 申请日期 1999.09.16
申请人 国际商业机器公司 发明人 安杰斯·布赖恩特;爱德华·J·诺瓦克;米恩·H·通
分类号 H01L29/78;H01L23/64;H01L21/336 主分类号 H01L29/78
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1.制造于衬底中的具有源、漏和栅的场效应晶体管,其中场效应晶体管的体是电浮置的,且晶体管基本上与衬底电隔离,其特征在于包含:将场效应晶体管的电浮置体耦合到场效应晶体管的栅的高阻通路,致使当栅处于低位时,在能够出现明显的热充电之前,体向低态放电,从而防止当晶体管处于关断时电荷在体上的积累。
地址 美国纽约
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