褥疮主因测定装置

摘要

一种褥疮主因测定装置，在具有可挠性之第1及第2薄片11，12间，设置应变产生薄片22，其一端23固定在第1薄片11，另一端固定在第2薄片12。当第1及第2薄片11，12间产生位移时，该位移即施加于应变产生薄片22。将应变计21固定在该应变产生薄片22，根据应变产生薄片22之位移检测应变，以测定剪力。进一步在前述第1薄片11上黏着第3薄片15之周缘，形成密封空间。测定该形成之密封空间之压力，据以测定对身体之压迫力。