发明名称 CIRCUIT ET PROCEDE UTILISANT DE MULTIPLES CHAINES D'ACCES SERIE POUR LE TEST DE CIRUCUITS INTEGRES
摘要 <P>Une architecture basée sur l'accès série réduit le nombre de broches, le temps de test et la consommation de puissance, et permet également l'utilisation de vecteurs d'accès série vérifiés existants en attaquant de multiples chaînes d'accès série (100, 102, 104, 106) à partir d'une seule entrée (30) et en utilisant de multiples horloges d'accès série (SCK1, SCK2, SCK3, SCK4). Les vecteurs pour de multiples chaînes sont appliqués séquentiellement à l'entrée d'accès série (30) de façon à diffuser les vecteurs vers les multiples chaînes d'accès série, mais seuls les bits pour une chaîne déterminée sont introduits sélectivement dans cette chaîne par l'une correspondante des multiples horloges d'accès série. Un multiplexeur de sortie (32) peut également être utilisé pour réduire le nombre total de broches de test. </P>
申请公布号 FR2839156(A1) 申请公布日期 2003.10.31
申请号 FR20020009758 申请日期 2002.07.31
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD 发明人 SIM GYOO CHAN
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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