| 发明名称 |
SYSTEM ZUM SELEKTIVEN TESTEN EINES IC CHIPS MIT GESPEICHERTEN ODER INTERN ERZEUGTEN BITSTRÖMEN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60005547(D1) |
申请公布日期 |
2003.10.30 |
| 申请号 |
DE20006005547 |
申请日期 |
2000.10.24 |
| 申请人 |
UNISYS CORP., BLUE BELL |
发明人 |
RHODES, VERNON;CONKLIN, DAVID;BARR, ALLEN |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/3181;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/319 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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