发明名称 |
Integrierte Testschaltung |
摘要 |
Es ist eine integrierte Testschaltung als Teil einer integrierten Schaltung vorgesehen. Bei der werden über Eingänge A und B bei Farben verschobene Testsignale zugeführt, die über mehrere hintereinander geschaltete Verzögerungsglieder geleitet werden, wobei mittels des zweiten Testsignals das Voranschreiten des ersten Testsignals durch die Verzögerungsglieder festgehalten und ausgewertet wird.
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申请公布号 |
DE10161049(C2) |
申请公布日期 |
2003.10.23 |
申请号 |
DE20011061049 |
申请日期 |
2001.12.12 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
SCHNEIDER, RALF;BUCKSCH, THORSTEN |
分类号 |
G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/319;G06F11/26;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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