发明名称 Integrierte Testschaltung
摘要 Es ist eine integrierte Testschaltung als Teil einer integrierten Schaltung vorgesehen. Bei der werden über Eingänge A und B bei Farben verschobene Testsignale zugeführt, die über mehrere hintereinander geschaltete Verzögerungsglieder geleitet werden, wobei mittels des zweiten Testsignals das Voranschreiten des ersten Testsignals durch die Verzögerungsglieder festgehalten und ausgewertet wird.
申请公布号 DE10161049(C2) 申请公布日期 2003.10.23
申请号 DE20011061049 申请日期 2001.12.12
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SCHNEIDER, RALF;BUCKSCH, THORSTEN
分类号 G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/319;G06F11/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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