发明名称 测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室
摘要 本发明涉及一种测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室。在现有技术中,能量为30-100keVX射线能谱穿透力强,不易屏蔽,由于界面到均匀块介质之间的过渡区中能量沉积仅涉及窄小的几何尺度,实验测试比较困难;在物理上,它不但涉及到光子对电子的能量转移,而且与电子的产生、散射和吸收引起的通量增减密切相关。为测量其剂量增强效应,本发明设计一种用高纯铝箔作为电极板的电离室,其铝箔作为电极板与有机玻璃环相互间隔,设置在铝制的壳体内,而两层端极板为活动结构,位于电离室的两侧;通过本发明可测量出X射线对不同材料界面剂量分布,从而能了解X射线对一些器件造成的损伤增强因子。
申请公布号 CN1450363A 申请公布日期 2003.10.22
申请号 CN02114495.8 申请日期 2002.04.05
申请人 西北核技术研究所 发明人 郭红霞;吴国荣;韩福斌;陈雨生;周辉
分类号 G01T1/185 主分类号 G01T1/185
代理机构 西安新思维专利事务所有限公司 代理人 李罡
主权项 1、一种测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室,包括内部组件、前后两层端极板和壳体,其特征在于:所述的内部组件包括多层电极板(1)、多层有机玻璃环(2)等,在多层有机玻璃环(2)上设置有通气孔槽(3)和铜线引孔槽(4),所述的多层有机玻璃环(2)的通气孔槽(3)和铜线引孔槽(4)对齐并重叠放置;所述的多层有机玻璃环(2)之间设置电极板(1),电极板(1)为超薄高纯铝箔,其贴于有机玻璃环(2)上,并与有机玻璃环上的通铜线引孔槽(4)内连出导线相连。
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