防止集成电路误入测试模式的内置装置

摘要

本文公开的集成电路包括：启动测试模式电路，它产生测试模式启动信号，使集成电路进入测试模式；自动复位电路，响应测试模式启动信号，防止集成电路在正常工作期间误入测试模式。

主权项

1.一种集成电路，包括测试模式检测电路，其特征在于，测试模式检测电路包括：测试触发信号输入端，用于接收测试触发信号；数据输入端，用于接收测试数据信号；存储器，用于储存测试数据模型；比较器，与存储器和数据输入端相连，用于对测试数据信号和测试数据模型进行比较，从而产生比较信号；第一与门，与数据输入端和比较器相连，用于生成比较信号；D-触发器，具有D-输入端，并且与第一与门相连，用于延迟比较信号并且在预定时间段后在其Q-输出端再现比较信号；第二与门，与触发器的Q-输出相连，用于生成测试模式启动信号，使得集成电路进入测试模式。