| 发明名称 | 用于检测和校正光存储介质上的相关地址的装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于检测和纠正光存储介质上的相对地址的装置和方法。该装置包括：相对地址检测器，其读取记录在光存储介质中的相对地址；相对地址连续性检测器，其查看是否从该相对地址检测器输出的相对地址之间的停留(continuance)数量至少是一个预定的数量N；以及相对地址纠正器，在相对地址连续性检测器确定相对地址之间的停留数量至少是一个预定的数量N之后，其强制纠正与前一个相对地址不连续的一个当前相对地址，并输出被纠正的相对地址。 | ||
| 申请公布号 | CN1450533A | 申请公布日期 | 2003.10.22 |
| 申请号 | CN03107956.3 | 申请日期 | 2003.03.27 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 严佑植 |
| 分类号 | G11B7/00;G11B20/18 | 主分类号 | G11B7/00 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
| 主权项 | 1.一种用于检测和纠正光存储介质上的相对地址的装置，该装置包括：相对地址检测器，其读取记录在光存储介质中的相对地址；相对地址连续性检测器，其查看是否从该相对地址检测器输出的相对地址之间的停留(continuance)数量至少是一个预定的数量N；以及相对地址纠正器，在相对地址连续性检测器确定相对地址之间的停留数量至少是一个预定的数量N之后，其强制纠正与前一个相对地址不连续的一个当前相对地址，并输出被纠正的相对地址。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||