发明名称 降低图案化光阻层之表面缺陷的酸性水溶液
摘要 揭示一种降低基材表面上图案化光阻层之表面缺陷的方法,其藉由包含这些阶段之步骤而获得:(a)在基材表面上形成正性化学放大光阻组成物之光阻层,(b)使光阻层依图案暴露于光化射线下,(c)对依图案曝光之光阻层施以后段曝光烘烤处理及(d)显影处理。该改良可以藉着在后曝光烘烤处理之后使光阻层与酸硷度为3.5或更低之酸性水溶液接触1至90秒而完成。该包含于酸性水溶液之酸宜为芳香族磺酸或,更佳者,二苯基醚磺酸例如十二烷基(二苯基醚)二磺酸。
申请公布号 TW200305058 申请公布日期 2003.10.16
申请号 TW092106966 申请日期 2001.02.02
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 新田和行;中緖卓;前盛谕;松海达也
分类号 G03F7/00 主分类号 G03F7/00
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本