发明名称 半导体装置以及其制造方法
摘要 本发明系提供一种半导体装置以及其制造方法。在集电极开口部上,磊晶生长由Si缓冲层、SiGe隔离层、倾斜SiGe层以及Si覆盖层所构成之Si/SiGe层,同时在氮化膜上之面上和氧化膜以及氮化膜之侧面上沉积多结晶层。此时,通过制成Si缓冲层之后制成SiGe隔离层等膜,确实进行非选择磊晶生长,并在氮化膜上又沉积多结晶层。
申请公布号 TW200305199 申请公布日期 2003.10.16
申请号 TW092106162 申请日期 2003.03.20
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 青木成刚;斋藤彻;能泽 克弥
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本
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