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Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsprüfung eines Analog-Digital-Wandlers, wobei der Analog-Digital-Wandler eine Funktion zur Wandlung wenigstens eines analogen Signals in wenigstens ein digitales Signal unter Verwendung einer ersten vorgegebenen Referenzspannung durchführt, dadurch gekennzeichnet, dass der Analog-Digital-Wandler die Funktion alternativ unter Verwendung wenigstens einer weiteren, insbesondere einer vorgegebenen zweiten, Referenzspannung durchführen kann, wobei der Analog-Digital-Wandler derart gesperrt wird, dass eine Verwendung wenigstens der weiteren, insbesondere der zweiten, Referenzspannung durch den Analog-Digital-Wandler verhindert wird, wobei zur Funktionsprüfung ein vorgegebenes analoges Signal in ein digitales Signal gewandelt wird und das digitale Signal ausgewertet wird.
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