| 发明名称 |
ELEKTROMECHANISCHE VORRICHTUNG ZUM TESTEN VON IC-CHIPS, DIE FÜR DIE ERSTE UND DIE ZWEITE ANEINANDER GEPRESSTE SUBSTRATGRUPPE BENUTZT WERDEN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60100747(D1) |
申请公布日期 |
2003.10.16 |
| 申请号 |
DE20016000747 |
申请日期 |
2001.02.20 |
| 申请人 |
UNISYS CORP., BLUE BELL |
发明人 |
FRIEDRICH, WILLIAM;TUSTANIWSKYJ, IHOR;BRAFFORD, MASON;BABCOCK, WITTMAN |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/04;G01R31/28;G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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