发明名称 |
适用于接合垫与检测垫的金属垫结构 |
摘要 |
一种接合垫区结构,设置于一具有电路的半导体晶片上,包括:一底部金属层,设置于半导体晶片表面,与其电路呈电性连结;一金属层间介电层,覆盖于底部金属层表面,且金属层间介电层内部嵌有与底部金属层接触的金属插塞结构;一顶部金属层,设置于金属层间介电层表面;以及一护层,设置于顶部金属层上,具有复数开口,露出顶部金属层欲供接合的部分以作为接合垫;其中该接合垫具有一标示性形状(marking shape),以界定该接合垫于该半导体晶片上的相对位置。 |
申请公布号 |
CN1449032A |
申请公布日期 |
2003.10.15 |
申请号 |
CN02108241.3 |
申请日期 |
2002.03.28 |
申请人 |
南亚科技股份有限公司 |
发明人 |
宁树梁 |
分类号 |
H01L23/52;H01L23/48;H01L23/532;H01L21/66 |
主分类号 |
H01L23/52 |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
1.一种接合垫区结构,设置于一具有电路的半导体晶片上,其特征在于包括:一底部金属层,设置于该半导体晶片表面,与该电路呈电性连结;一金属层间介电层,覆盖于底部金属层表面,且该金属层间介电层内部嵌有与该底部金属层接触的金属插塞结构;一顶部金属层,设置于该金属层间介电层表面;以及一护层,设置于该顶部金属层上,具有复数开口,露出该顶部金属层欲供接合的部分以作为接合垫;其中至少一接合垫具有一标示性形状(marking shape),以界定该接合垫于该半导体晶片上的相对位置。 |
地址 |
台湾省桃园县 |