发明名称 | 接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法 | ||
摘要 | 本发明涉及接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法,其中,接触器具有接触器基片和在接触器基片上形成的多个接触电极。通过在金属引线的接合到接触器基片的一端和另一端之间弯曲金属引线而形成每一个接触电极。由切割面形成斜面。在接触电极的顶部形成因拉伸断裂而形成的断裂面。 | ||
申请公布号 | CN1449009A | 申请公布日期 | 2003.10.15 |
申请号 | CN02152681.8 | 申请日期 | 2002.11.29 |
申请人 | 富士通株式会社 | 发明人 | 丸山茂幸;渡辺直行;田代一宏;小桥直人;井川治;藤沢哲也 |
分类号 | H01L21/66 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李德山 |
主权项 | 1.一种接触器,包括:布线基片;以及在所述布线基片上形成的多个接触电极,其中,所述多个接触电极中每一个都是其一端接合到所述布线基片的棒状部件;所述多个接触电极中每一个的另一端至少有两个斜面;以及由所述至少两个斜面形成的顶部偏离所述棒状部件横截面的中心。 | ||
地址 | 日本神奈川 |