发明名称 |
正性光刻胶组合物的热处理方法 |
摘要 |
描述了对于重氮萘醌磺酸酯-酚醛清漆正性光刻胶的快速后曝光烘烤(快速PEB)方法,该方法提供了显著的优点。该方法优选在底抗反射涂层上使用比抗蚀剂普通后曝光烘烤(PEB)较高的温度(≥130℃)和很短的烘烤时间(≤30秒)。它明显地提高了光刻胶的分辨能力、工艺宽容度、热变形温度、抗蚀剂附着力和抗等离子蚀刻性。 |
申请公布号 |
CN1124521C |
申请公布日期 |
2003.10.15 |
申请号 |
CN97192770.7 |
申请日期 |
1997.02.27 |
申请人 |
克拉里安特国际有限公司 |
发明人 |
R·R·达梅尔;卢炳宏;M·A·斯巴克;O·阿利勒 |
分类号 |
G03F7/38 |
主分类号 |
G03F7/38 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
黄泽雄 |
主权项 |
1、在低反射率的基质上制备浮凸图像的方法,包括将一抗反射涂层施加在所述基质上,将重氮萘醌/酚醛清漆光刻胶涂敷在所述抗反射涂层上面,在光化性光线下将光刻胶曝光,烘烤光刻胶涂层,处理涂敷的基质以在该基质上显影图像,该烘烤步骤是通过将基质接触或紧靠着温度不低于130℃的加热的表面不长于30秒的时间而完成的。 |
地址 |
瑞士穆坦茨 |