| 发明名称 | 光记录介质与使用该介质的偏心量检测装置 | ||
| 摘要 | 提供一种光记录介质及使用该光记录介质的偏心量检测装置，该光记录介质可正确检出照射于光记录介质的光点与光记录介质在径向的相对位移量即偏心量。光记录介质上，多(N)个由第一偏摆痕211与第二偏摆痕212构成的伺服区113和多(N)个进行信息的记录与再现的数据区在环向上交互配置；伺服区由第一偏摆痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区210a～210c在径向上配置而成，多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于N/(2×π)。 | ||
| 申请公布号 | CN1449560A | 申请公布日期 | 2003.10.15 |
| 申请号 | CN01814698.8 | 申请日期 | 2001.08.29 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 上田英司 |
| 分类号 | G11B7/007 | 主分类号 | G11B7/007 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
| 主权项 | 1.一种光记录介质，其特征在于：其环向上设有多(N)个伺服区，其径向上设有各自有不同图案的多个伺服图案区，所述多个伺服图案区各自包含的纹道数相等且小于N/(2×π)(此处，π表示圆周率)。 | ||
| 地址 | 日本大阪府门真市 | ||