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发明名称 TESTING DEVICE FOR IC CARD
摘要
申请公布号 JPS6435676(A) 申请公布日期 1989.02.06
申请号 JP19870192129 申请日期 1987.07.30
申请人 OMRON TATEISI ELECTRON CO 发明人 KIDERA KINICHI
分类号 G06K17/00;G06F3/06 主分类号 G06K17/00
代理机构 代理人
主权项
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