探测卡之检测置放台

摘要

一种探测卡之检测置放台，其包含一承置盘、至少一滚珠限制板及复数个滚珠，该承置盘具有一上开口及一下底面，在该上开口设有一支撑环，用以承载一探测卡，在该下底面形成有复数个第一锥形孔，与一滚珠限制板之一第二锥形孔构成该些滚珠限制空间，以移动该承置盘。五、(一)、本案代表图为；第3图(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明：1 检测置放台10 承置盘 12 下底面14 第一锥形孔 15 唇缘16 缺口17 结合孔20 滚珠 30 滚珠限制板 31 第二锥形孔40 螺栓

主权项

1.一种探测卡之检测置放台,系包含:一承置盘,具有一上开口及一下底面,其中该上开口周缘系设有一支撑环,用以承载一探测卡,而该下底面系形成有复数个第一锥形孔;复数个滚珠限制板,结合于该承置盘之下底面,该些滚珠限制板系形成有复数个第二锥形孔,每一第二锥形孔系对应每一第一锥形孔以形成每一滚珠之限制空间;及复数个滚珠,设于该些第一锥形孔与该些第二锥形孔所形成之限制空间。2.如申请专利范围第1项所述之探测卡之检测置放台,其中该支撑环系与该下底面平行。3.如申请专利范围第1项所述之探测卡之检测置放台,其中第一锥形孔具有一往下扩大之开孔,其系对应于第二锥形孔之往上扩上之开孔。4.如申请专利范围第1项所述之探测卡之检测置放台,其中该承置盘系由该支撑环形成有凸起之唇缘,以限制探测卡。5.如申请专利范围第4项所述之探测卡之检测置放台,其中该唇缘系形成有缺口。图式简单说明:第1图:依本创作,一种探测卡之检测置放台在使用状态之立体图;第2图:依本创作,该探测卡之检测置放台之顶视立体图;第3图:依本创作,该探测卡之检测置放台之底视立体图;及第4图:依本创作,该探测卡之检测置放台之轮动机构截面图。