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发明名称 CIRCUIT FOR IMPROVED TEST AND CALIBRATION IN AUTOMATED TEST EQUIPMENT.
摘要
申请公布号 KR20030080058(A) 申请公布日期 2003.10.10
申请号 KR20037011509 申请日期 2003.09.02
申请人 发明人
分类号 G01R31/00;G01R31/28;G01R35/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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