发明名称 Verfahren zur Spektralanlanalyse und Scanmikroskop
摘要 Ein Verfahren zur Spektralanalyse des von einer Probe ausgehenden Lichtes mit einem Multibanddetektor ist offenbart. Das Verfahren ist gekennzeichnet durch die Schritte des Festlegens eines Spektralgesamtbereiches, des Festlegens eines ersten Spektralteilbereiches und Festlegen mindestens eines zweiten Spektralteilbereiches aus dem Spektralgesamtbereich, des simultanen Detektierens des von der Probe ausgehenden Lichtes im ersten und im zweiten Spektralbereich und Erzeugen von Detektionswerten, des Verschiebens des ersten Spektralteilbereiches und Verschieben des zweiten Spektralbereiches innerhalb des Spektralgesamtbereiches und des Wiederholens der Schritte c und d, bis das Licht über den gesamten Spektralgesamtbereich detektiert ist. Weiterhin ist ein Scanmikroskop mit einem Multibanddetektor, der von einer Probe ausgehendes Licht in mindestens einem ersten und einem zweiten Spektralbereich detektiert, offenbart. Das Scanmikroskop ist dadurch gekennzeichnet, dass die Spektralbereiche simultan verschiebbar sind.
申请公布号 DE10213187(A1) 申请公布日期 2003.10.09
申请号 DE20021013187 申请日期 2002.03.23
申请人 LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH 发明人 KNEBEL, WERNER
分类号 G01J3/32;G01J3/36;G01N21/64;G02B21/00;G02B21/16;G02B21/36;(IPC1-7):G01J3/36 主分类号 G01J3/32
代理机构 代理人
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