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Ein Verfahren, eine Apparatur und ein Herstellungsartikel zum Unterstützen der Charakterisierung einer Vorrichtung richtet eine Vorrichtung-S-Parameter-Matrix (S¶D¶), um ein elektrisches Verhalten der Vorrichtung darzustellen, eine Adapter-T-Parameter-Matrix (T¶a¶), um alle möglichen elektrischen Pfade durch Schaltungen zu allen Vorrichtungstoren der Vorrichtung darzustellen, und eine kaskadierte S-Parameter-Matrix (S¶c¶), um die mit der Vorrichtung kaskadierten Schaltungen darzustellen, ein. Werte für die Adapter-T-Parameter-Matrix werden entweder durch Messen oder Modellieren erhalten. Die mit den Schaltungen kaskadierte Vorrichtung wird gemessen, um Werte für die kaskadierte S-Parameter-Matrix (S¶c¶) zu erhalten, wobei eine Verwendung einer allgemeinen Lösung für die Vorrichtung-S-Parameter-Matrix als Funktion der Adapter-T-Parameter-Matrix und der kaskadierten S-Parameter-Matrix ermöglicht wird.
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