发明名称 半导体存储装置
摘要 本发明涉及一种半导体存储装置,能够在用MIS晶体管作为积累电荷的装置的半导体存储装置中,提高数据的写入工作和读出工作的速度。DRAM单元10是为了由在第1晶体管11的沟道中积累电荷,由第2晶体管12和第3晶体管13传送电荷而构成的,通过交互地使用用与第2晶体管12的栅极连接的第1字线WLa和与第2晶体管12的漏极连接的第1位线BLa的路径、和用与第2晶体管12的栅极连接的第1字线WLa和与第2晶体管12的漏极连接的第1位线BLa的路径这样2条路径,可以使数据传输速度高速化。
申请公布号 CN1447438A 申请公布日期 2003.10.08
申请号 CN03107392.1 申请日期 2003.03.25
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 县政志;高桥和也;白滨政则;黑田直喜;贞方博之;西原竜二
分类号 H01L27/108;G11C11/407 主分类号 H01L27/108
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.半导体存储装置,它的特征是:备有分别具有第1晶体管、源极或漏极与上述第1晶体管的源极或漏极的一部分连接的第2晶体管、源极或漏极与上述第1晶体管的源极或漏极的其它部分连接的第3晶体管的多个存储单元,上述第1晶体管将从上述第2和第3晶体管传送过来的电荷积累在沟道中。
地址 日本大阪府