筛选ICT测试盲点以制造目检罩板的系统与方法

摘要

一种筛选ICT测试盲点以制造目检罩板的系统与方法，用以自一ICT原始数据文件与一BOM文件中筛选出ICT容易误判的元件与ICT未侦测的元件，并储存至一罩板数据文件。此罩板数据文件可以提供给一激光切割装置制造用以进行人工目检的一目检罩板。此方法使得在目检缺件时，不需检查主机板上的全部元件，只需检查ICT容易误判以及未侦测的元件。本方法增进测试人员的检查效率，加快产品出货的速度，并且节省人力花费成本。

主权项

1.一种筛选ICT(中间测试电路)测试盲点的方法，用以自一ICT原始数据文件与一BOM(材料明细表)文件中筛选产生出一罩板数据文件，以进行后续目检罩板的工序，该方法包括：a.在该ICT原始数据文件中，找出多个ICT未侦测的SMT(表面装配工艺)元件的位置；b.以这些ICT未侦测的SMT元件的位置与该BOM文件进行比较，找出这些ICT未侦测的SMT元件的料号与品名；c.在该BOM文件中，找出多个ICT容易误判的元件以及面积较大的元件的位置、料号与品名；以及d.将这些ICT未侦测的SMT元件、ICT容易误判的元件以及面积较大的元件的位置、料号与品名输出至该罩板数据文件。