| 发明名称 |
Halbleiterspeicherschaltung mit eingebauter Selbstprüfung und Selbstreparatur |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60001291(T2) |
申请公布日期 |
2003.10.02 |
| 申请号 |
DE20006001291T |
申请日期 |
2000.05.04 |
| 申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
KAWAGOE, TOMOYA |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F12/16;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/12;G11C29/44;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G06F11/20 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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