| 主权项 |
1.一种群延迟测试方法,适合用来测试一受测装置之群延迟Tgd,该群延迟测试方法包含以下步骤:(A)输入一已知周期T之类比单频信号至所述受测装置之一输入端;(B)撷取该单频信号及通过所述受测装置后所输出之一延迟后单频信号,并将该单频信号与该延迟后单频信号分别转换成一第一数位信号与一第二数位信号;(C)比较该第一、第二数位信号的相位差;(D)将相位差之比较结果转换成一正比于该相位差之电流I;(E)使该电流I流经一已知电阻値R之平均电路,并获得一电压差V;及(F)依据该等已知之周期T、电流I、电阻値R及电压差V,求得所述受测装置的群延迟Tgd。2.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(A)所输入之该单频信号是为一正弦波信号。3.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(B)转换所得之该第一、第二数位信号皆为方波信号。4.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(D)是藉由控制电流泵将该相位差比较结果转换成该电流I。5.依据申请专利范围第4项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(D)是利用该相位差来控制相串联之上、下电流泵,并使该电流I由上、下电流泵串接处流向该平均电路。6.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(E)之该平均电路是采用一低通滤波电路。7.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(F)是依据一计算式V=(Tgd/T)IR来求得该群延迟Tgd。8.依据申请专利范围第1项所述之群延迟测试方法,更包含有介于该步骤(A)与该步骤(B)间之步骤(A1)~步骤(A4),其中:该步骤(A1)是同步地重复撷取该单频信号,并将重复撷取之该单频信号同步进行转换而分别获得第一、第二数位信号;该步骤(A2)是比较步骤(A1)所获得之第一、第二数位信号的相位差;该步骤(A3)是将该步骤(A2)所获得的相位差比较结果,转换成一正比于该相位差之电流;该步骤(A4)是使该步骤(A3)所得之电流流经该平均电路,并获得一电压误差値V';又,该步骤(F)在计算群延迟Tgd时,更将该电压误差値V'考虑在内。9.依据申请专利范围第8项所述之群延迟测试方法,其中,该步骤(F)是依据一计算式V-V'=(Tgd/T)IR来求得该群延迟Tgd。10.一种群延迟测试装置,适合用来测试一受测装置之群延迟,该测试装置包含:一信号源,用以输出一类比之单频信号至所述受测装置之一输入端;一第一转换电路,其一输入端是连接于所述受测装置之输入端,用以将所撷取之类比信号予以数位化;一第二转换电路,其一输入端可连接于所述受测装置之一输出端,用以将所撷取之类比信号予以数位化;一相位检测器,用以接收并比较该第一、第二转换电路所输出之数位化信号,并由其一输出端输出该等数位化信号间的相位差比较结果;相串联之上、下电流泵,用以同时受控于该相位检测器之输出端,并由上、下电流泵串接处流出一正比于该相位差之电流;及一平均电路,连接于上、下电流泵所输出之电流的回路上,用以于该平均电路之一输出端产生一电压差。11.依据申请专利范围第10项所述之群延迟测试装置,更包含有一可选择使用在一测试状态与一校正状态之校正单元,当在该测试状态时,所述受测装置之输入端与输出端的信号是先被送入该校正单元后,再分别送往该第一、第二转换电路;当在该校正状态时,所述受测装置之输入端的信号是透过该校正单元而同时送往第一、第二转换电路,藉此量测出整体群延迟测试装置本身失配所产生的误差値。12.依据申请专利范围第10项所述之群延迟测试装置,其中,该平均电路是一低通滤波电路。图式简单说明:第一图是习知群延迟测试方法所采用一多频信号源之二多频信号的时序示意图;第二图是一群延迟测试装置与一受测装置预作连接之简略方块示意图,说明本发明之群延迟测试方法的一较佳实施例;第三图是该较佳实施例中该测试装置在一测试状态时之简略方块示意图;及第四图是该较佳实施例中该测试装置在一校正状态时之简略方块示意图。 |
