| 主权项 |
1.一种光学拾取定位控制方法,使用在藉由将来自光学拾取装置之光点照设置光碟上而记录且/或播放资讯之光碟装置中,以及将该光碟以及该光学拾取装置之相关位置定位于藉由侦测该光点之经反射光线所得之侦测信号之颤动値之最佳値之位置,该方法包含:(a)颤动値取得程序,其在该相对位置之调整范围内执行多重馈送操作,并在每个馈送位置处得到该颤动値,(b)一端缘位置设定程序,根据由该颤动値取得程序所得之颤动値以及该馈送位置,而将大于预设规定颤动起始値为大之相对位置设定为端缘位置,(c)一最佳位置计算程序,其根据此端缘位置设定程序所设定之端缘位置而计算得到该颤动値之最佳値之最佳位置,以及(d)一最佳位置调整程序,其调整该光碟以及该光学拾取装置之相对位置至此最佳位置计算程序所计算之最佳位置,(e)其特征在于该端缘位置设定程序根据给定超过该颤动起始値之颤动値之至少两个相对位置之条件而设定该端缘位置。2.如申请专利范围第1项之方法,其中在该颤动取得程序中之每个馈送位置处之颤动値之取得,系藉由以规定之速度而旋转该光碟,沿着该光碟之圆周而取得多个颤动値,并将不包括该最大値之所得多个颤动値取平均値。3.如申请专利范围第1项或是第2项之方法,进一步包含在该颤动値取得程序之后有一颤动特性平顺程序,其在当假如对应于馈送位置之颤动値所画出之颤动特性,经判断符合预设之颤动特性时,会将所得之颤动特性予以平顺化,且该端缘位置设定程序以及该最佳位置计算程序系根据由此颤动特性平顺程序所平顺之颤动特性而执行。4.如申请专利范图第3项之方法,其中该颤动特性平顺程序经执行,使得在馈送位置X0≦X≦Xmax中所得之颤动値表示为J(X0)≦J(X)≦J(Xmax)中,该在每个馈送位置之经平顺之颤动値Js(X0),Js(X),Js(Xmax)系以如下而得:Js(X0)=[3xJ(X0)+J(X0+1)]/4;Js(X)=[J(X-1)+2xJ(X)+J(X+1)]/4;Js(Xmax)=[J(Xmax-1)+3xJ(Xmax)]/4;该端缘位置设定程序具有:一第一端缘位置设定步骤,其将为Js(X0)以及Js(Xmax)之较小値者之颤动値之馈送位置取为该第一端缘位置Jedge,以及一第二端缘位置设定步骤,其将该Jedge与自此第一端缘位置而在朝向取出另外之Js(X0)或是Js(Xmax)之馈送位置之方向上连续之每个Js(X)相比较,而将其中Jedge≦Js(X)之馈送位置取为第二端缘位置,以及该最佳位置计算程序,计算该第一端缘位置以及该第二端缘位置之中间点,并将此中间点取为该最佳位置。5.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含一实施决定程序,其根据该光碟之类型,而决定是否执行该颤动値取得程序,该端缘位置设定程序,该最佳位置计算程序,以及该最佳位置调整程序。6.如申请专利范围第1项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之倾斜位置。7.如申请专利范围第1项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之聚焦位置。8.如申请专利范围第2项之方法,进一步包含一实施决定程序,其根据该光碟之类型,而决定是否执行该颤动値取得程序、该端缘位置设定程序,该最佳位置计算程序,以及该最佳位置调整程序。9.如申请专利范围第2项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之倾斜位置。10.如申请专利范围第2项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之聚焦位置。11.如申请专利范围第3项之方法,进一步包含一实施决定程序,其根据该光碟之类型,而决定是否执行该颤动値取得程序、该端缘位置设定程序,该最佳位置计算程序,以及该最佳位置调整程序。12.如申请专利范围第3项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之倾斜位置。13.如申请专利范围第3项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之聚焦位置。14.如申请专利范围第4项之方法,进一步包含一实施决定程序,其根据该光碟之类型,而决定是否执行该颤动値取得程序、该端缘位置设定程序,该最佳位置计算程序,以及该最佳位置调整程序。15.如申请专利范围第4项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之倾斜位置。16.如申请专利范围第4项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之聚焦位置。17.如申请专利范围第5项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之倾斜位置。18.如申请专利范围第5项之方法,其中该相对位置系为介于该光碟以及该光学拾取装置之间之聚焦位置。图式简单说明:图1系为本发明之娱乐装置之大要平面图。图2系为该娱乐装置之内部结构之方块图。图3系为展示光碟装置之结构以及控制此装置之机械控制器之方块图。图4A以及4B系解释相关本发明之倾斜控制方法之偏向调整之方法。图5系为表示本发明之光学拾取位置控制方法之流程图。图6系为表示本发明方法之颤动値取得程序之流程图。图7系为本发明之颤动特性平顺程序之图。图8系为本发明之端缘位置设定程序之流程图。图9系为解释本发明之端缘位置设定程序之图。图10系为解释在习知光学拾取位置控制方法中而设定该最佳位置之程序之图。 |
