发明名称 Lithographic manufacturing process comprising a method of measuring overlay
摘要
申请公布号 EP1348150(A1) 申请公布日期 2003.10.01
申请号 EP20010272188 申请日期 2001.12.12
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 MONSHOUWER, RENE;NEIJZEN, JACOBUS, H., M.;VAN DER WERF, JAN, E.
分类号 G01B11/00;G03F7/20;G03F7/22;G03F9/00;H01L21/027;(IPC1-7):G03F9/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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