发明名称 | 一种集成电路性能测量及电路实验装置 | ||
摘要 | 本实用新型涉及集成电路性能测量、试验技术,尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括:基板,其上设有多个固定孔,上表面均设至少2个固定导槽;至少1块用于接插集成块和电子元件的母板,其上设有印刷线路用即导体;至少2个用于固定母板的固定块,插装在所述固定导槽里、并同时将母板安装在基板上、于固定导槽之间;至少1个固定条,通过固定孔安装在基板上,用于固定整体结构。在基板上灵活方便地组合母板,使用本实用新型能安全、方便、快速地用集成块和电子元件搭建测量和实验电路,以对各种型号和形状的(尤其贴片式)集成电路进行各种性能的测量和试验。 | ||
申请公布号 | CN2577289Y | 申请公布日期 | 2003.10.01 |
申请号 | CN02280449.8 | 申请日期 | 2002.10.11 |
申请人 | 中国科学院海洋研究所 | 发明人 | 龚德俊;朱素兰;李思忍;徐永平;于新生;秦枫 |
分类号 | G01R1/02;G01R1/04 | 主分类号 | G01R1/02 |
代理机构 | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 | 代理人 | 许宗富;周秀梅 |
主权项 | 1.一种集成电路性能测量及电路实验装置,其特征在于包括:基板(1),其上设有多个固定孔(6),上表面均设至少2个固定导槽;至少1块用于接插集成块和电子元件的母板(3),其上设有印刷线路即导体(4);至少2个用于固定母板(3)的固定块(2),插装在所述固定导槽里、并同时将母板(3)安装在基板(1)上、于固定导槽之间;至少1个固定条(7),通过固定孔(6)安装在基板(1)上,用于固定整体结构。 | ||
地址 | 266071山东省青岛市南海路7号 |