发明名称 光拾波装置的制造方法及光拾波装置
摘要 本发明的课题在于提高光探测器相对于光学单元的位置调整的精度,同时提高光探测器的位置调整后的可靠性。在将光拾波装置的光探测器1固定在柔性基板(FPC)2上之前,用螺钉11将FPC2及辅助板4固定在光学单元5上。然后,用探针12将光探测器1按压在FPC2上,使引线部1a与导体部2a接触。在该状态下用探针12移动光探测器1单体,进行光探测器1的位置调整。由于光探测器1单体与FPC2之间的摩擦力较小,所以能进行高精度的调整。另外,由于使引线部1a与导体部2a接触,所以能一边通过FPC2观察光探测器1输出的电信号,一边进行位置调整。然后,一旦确定了光探测器1的最佳位置,便将引线部1a与导体部2a焊接固定。
申请公布号 CN1445763A 申请公布日期 2003.10.01
申请号 CN03101665.0 申请日期 2003.01.14
申请人 三菱电机株式会社 发明人 岸上智;竹下伸夫
分类号 G11B7/13;G11B7/22 主分类号 G11B7/13
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘宗杰;王忠忠
主权项 1.一种光拾波装置的制造方法,上述光拾波装置备有:有接收来自光盘的反射光的受光部列及输出对应于上述受光部列接收的上述反射光的电信号的引线部的光探测器;固定上述光探测器、有输入来自上述引线部的上述电信号的导体部的基板;以及固定上述基板、进行入射到上述受光部列的上述反射光的调整的光学单元,该光拾波装置的制造方法的特征在于,包括:(a)将上述基板固定在上述光学单元的规定位置的工序;(b)在上述工序(a)之后进行、一边使上述引线部接触上述导体部,一边进行上述光探测器的位置调整的工序;以及(c)将上述工序(b)中的上述位置调整结束了的上述光探测器固定在上述基板上的工序。
地址 日本东京都