发明名称 | 光学开关元件及其制造方法 | ||
摘要 | 利用化学气相沉积方法(CVD方法)形成下包层、核心和上包层。至少调整氮氧化硅的氧的添加量,氮的添加量和硅的添加量之一,以便核心具有高于包层的所需折射率。此外,形成终点检测器,在刻模形成核心的过程中,所述终点检测器变成干蚀刻的蚀刻限位器。 | ||
申请公布号 | CN1445571A | 申请公布日期 | 2003.10.01 |
申请号 | CN03120500.3 | 申请日期 | 2003.03.19 |
申请人 | 富士通株式会社 | 发明人 | 奥田章二 |
分类号 | G02B6/26 | 主分类号 | G02B6/26 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 吴丽丽 |
主权项 | 1、一种光学开关元件,包括:在半导体基底上形成的包层;和被所述包层覆盖,并且使之具有比所述包层高的折射率从而形成光路的核心,其中所述核心由氮氧化硅形成,并且通过调整氧的增添量,氮的增添量和硅的增添量中至少之一,控制所述核心具有所需的折射率。 | ||
地址 | 日本神奈川 |