发明名称 光学开关元件及其制造方法
摘要 利用化学气相沉积方法(CVD方法)形成下包层、核心和上包层。至少调整氮氧化硅的氧的添加量,氮的添加量和硅的添加量之一,以便核心具有高于包层的所需折射率。此外,形成终点检测器,在刻模形成核心的过程中,所述终点检测器变成干蚀刻的蚀刻限位器。
申请公布号 CN1445571A 申请公布日期 2003.10.01
申请号 CN03120500.3 申请日期 2003.03.19
申请人 富士通株式会社 发明人 奥田章二
分类号 G02B6/26 主分类号 G02B6/26
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 吴丽丽
主权项 1、一种光学开关元件,包括:在半导体基底上形成的包层;和被所述包层覆盖,并且使之具有比所述包层高的折射率从而形成光路的核心,其中所述核心由氮氧化硅形成,并且通过调整氧的增添量,氮的增添量和硅的增添量中至少之一,控制所述核心具有所需的折射率。
地址 日本神奈川