| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung der Kammerwandtemperatur in Kokereianlagen, bei dem mindestens entlang zweier im Abstand voneinander liegender Höhenlinien die Temperatur mehrerer punktförmiger Bereiche jeder Kammerwand optisch ermittelt wird. Dazu werden in einem engen Raster Vertikalschnitte durch die Höhenlinien gelegt und die abgegriffenen Temperaturwerte mittels eines mathematischen Verfahrens zur Ermittlung benachbarter Temperaturwerte herangezogen, wobei die durch jeweils zwei benachbarter Vertikalschnitte zweier Höhenlinien sich ergebenden Temperaturwerte eine Fläche aufspannen, innerhalb der weitere Temperaturpunkte ermittelt werden.</p> |
