发明名称 金属氧化物半导体场效应晶体管制造方法
摘要 一种MOSFET结构及其制造方法,其中不用任何掩模而是用自对准栅掩模,不在源附近形成轻掺杂区。该结构包括:半导体衬底;形成于半导体衬底上的栅氧化膜和栅极;形成于半导体衬底中的第一高浓度杂质区,该区与栅极一侧相邻;形成于半导体衬底中的轻掺杂区,该区与栅极的另一侧相邻,及与轻掺杂区相邻形成的第二高浓度杂质区。
申请公布号 CN1122315C 申请公布日期 2003.09.24
申请号 CN97116248.4 申请日期 1997.08.22
申请人 LG半导体株式会社 发明人 全锡珤
分类号 H01L29/78;H01L21/336 主分类号 H01L29/78
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 陆弋
主权项 1.一种金属氧化物半导体场效应晶体管制造方法,包括以下步骤:在半导体衬底上形成栅氧化膜和多晶硅膜;利用栅极掩模构图多晶硅膜,以形成栅极;向栅极两侧的半导体衬底中离子注入轻掺杂杂质,在半导体衬底中形成第一轻掺杂区和第二轻掺杂区;在栅极和半导体衬底的整个表面上形成掩蔽层;通过向第二轻掺杂区偏移栅极掩模,构图掩蔽层,形成局部掩模,覆盖栅极和第二轻掺杂区的一部分;及向局部掩模两侧的半导体衬底中注入高浓度杂质。
地址 韩国忠清北道