| 主权项 |
1.一种光学扫描装置,该光学扫描装置包含:一光源照射一扫描物件以产生一影像光源;一成像装置接收该影像光源;及多数个光闸允许部份的光束进入一光感测器上,其中该多数个光闸位于该光感测器的一非感应区上且该光感测器用以接收由该成像装置传送之该部份影像光源。2.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一反射式光源。3.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一穿透式光源。4.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中上述成像装置为一光学井成像装置。5.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中上述位于多数个光闸之间的间隔具有相同的宽度。6.如申请利范围第5项之光学扫装置,其中上述多数个光闸之间的宽度小于该光感测器的每一个像素。7.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中上述多数个光闸的高度用于拦阻由其他光束所产生的干扰光源。8.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,更包含一类比-数位转换系统以接收由该光感测器送的一影像资料并转换成一数位讯号。9.如申请专利范围第1项之光学扫描装置,更包含一特殊应用积体电路用以接收由该类比-数位转换系统所传送之该数位讯号并处理该数位讯号。10.一种光学扫描装置,该光学扫描装置包含:一光源照射一扫描物件以产生一影像光源;一成像装置接收该影像光源;多数个光闸位于该光感测器的一非感应区上并允许部份的光束进入一光感测器上,其中该多数个光闸具有一高度系用于拦阻由其他光束所产生的干扰光源及该光感测器用以接收由该成像装置所传送之该部份影像光源;一类比-数位转换系统用以接收由该光感测器传送之一影像资料且将该影像资料转换成一数位讯号;及一特殊应用积体电路用体接收由该类比-数位转换系统传送之该数位讯号且处理该数位讯号。11.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一反射式光源。12.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一穿透式光源。13.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述成像装置为一光学井成像装置。14.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述该光感测器为一接触式影像感测器。15.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述该光感测器为一电荷耦合器。16.如申请专利范围第10项之光学扫描装置,其中上述多数个光闸之间的间隔具有相同的宽度。17.如申请专利范围第16项之光学扫描装置,其中上述多数个光闸之间的宽度小于该光感测器上的每一个像素。18.一种具有光学井成像装置之光学扫描装置,该光学扫描装置包含:一光源照射一扫描物件以产生一影像光源;一光学井成像装置用以接收该影像光源;多数个光闸具有相同的间隔宽度且位于该光感测器的一非感应区上并允许部份的光束进入一光感测器上,其中该多数个光闸具有一高度足以拦阻由其他光束所产生的干扰光源及该光感测器用以接收由该光学井成像装置所传送之该部份影像光源;一类比-数位转换系统用以接收由该光感测器传送之一影像资料将该影像资料转换成一数位讯号;及一特殊应用积体电路用体接收由该类比-数位转换系统传送之该数位讯号且处理该数位讯号。19.如申请专利范围第18项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一反射式光源。20.如申请专利范围第18项之光学扫描装置,其中上述影像光源包含一穿透式光源。21.如申请专利范围第18项之光学扫描装置,其中上述光感测器为一接触式影像感测器。22.如申请专利范围第18项之光学扫描装置,其中上述光感测器为一电荷耦合器。23.如申请专利范围第18项之光学扫描装置,其中上述多数个光闸之间的宽度小于位于该光感测器上的每一个像素。图式简单说明:第一A图系表示一影像光源传送至具有一传统的透镜成像装置的光学扫描装置;第一B图系表示根据第一A图所产生的应答分布曲线图;第二图系根据本发明之装置,系表示具有一光学井成像装置之光学扫描器之结构方块图;第三图系根据本发明之装置,系表示光学井成像装置接收一反射光光束之示意图;及第四图系根据本发明之装置,系表示具有光学井成像装置之光学扫描模组之结构示意图。 |
