发明名称 增加延面距离,提升ESD防护力的按键装置
摘要 本创作之提升ESD(Electrostatic Discharge)防护力的按键装置,主要系具备有:用来保持电子产品外形之外盖;和用来按压之按键;和与按键结合并接合于外盖之弹性构件。其中,外盖上与按键接合的部位,系被设计成对应于按键上部的盖状形状来形成延面凹槽。由于延而凹槽的延面结构可以延长ESD电子自电子产品的外部打进内部的机板所需的距离,所以可以藉此衰减ESD电子的破坏力,进而提升电子产品的ESD防护力。
申请公布号 TW555140 申请公布日期 2003.09.21
申请号 TW091219336 申请日期 2002.11.29
申请人 纬创资通股份有限公司 发明人 张木财;叶志峰
分类号 H01H13/00 主分类号 H01H13/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种提升ESD防护力的按键装置,系针对静电放电敏感的电子产品所作之设计,包含有:按键,包含盖状的按键盖部和连接于该按键盖部之按键轴部;和外盖,用来保持电子产品外形,在该外盖上对应于前述按键轴部形成穿透孔;和弹性构件,其前述按键轴部结合并连接于前述外盖;其特征为:前述外盖上,因应前述按键盖部的盖状形状,以离合于前述按键盖部的形状而形成可增加延面距离之延面凹槽。2.如申请专利范围第1项之提升ESD防护力的按键装置,其中,上述按键的按键轴部,系自外盖的外部插进外盖上的穿透孔中。3.如申请专利范围第1项之提升ESD防护力的按键装置,其中,上述按键的上部盖状结构,系以离合地套接于上述延面凹槽中。4.如申请专利范围第1项之提升ESD防护力的按键装置,其中,前述延面凹槽的表面上形成环状突起。5.一种提升ESD防护力的按键装置,系针对静电放电敏感的电子产品所作之设计,包含有:按键,包含盖状的按键盖部和连接于该按键盖部之按键轴部;和外盖,用来保持电子产品外形,在该外盖上对应于前述按键轴部形成穿透孔;和弹性构件,系与前述按键轴部结合并连接于前述外盖;和机板,设置于前述外盖所包围空间的内部;和开关,设置于机板上,用来承受上述按键的按压以进行切换;其特征为:前述外盖上,因应前述按键上部的盖状形状,以离合于前述按键盖部的形状而形成可增加延面距离之延面凹槽。6.如申请专利范围第5项之提升ESD防护力的按键装置,其中,上述按键的轴部,系自外盖的外部插进外盖上的穿透孔中。7.如申请专利范围第5项之提升ESD防护力的按键装置,其中,上述按键的顶部盖状结构,系以离合地套接于上述延面凹槽中。8.如申请专利范围第5项之提升ESD防护力的按键装置,其中,前述延面凹槽的表面上形成环状突起。图式简单说明:第1图系显示实验室中针对类似PDA之类的产品来作为静电放电防护力之实验标的,以及实施静电放电测试后的结果。第2图系外部ESD电子进入电子产品内部所行经之延面路径图。第3图系显示习知技术的ESD防护力的按键装置之加装保护片的剖面示意图。第4图系习知技术的ESD防护力的按键装置之按键与机构外壳相接合之剖面示意图。第5图系显示本创作的ESD防护力的按键装置之按键与机构外壳相接合之剖面示意图。第6图系针对第5图局部的延面凹槽及按键所显示的放大图。第7图系针对第5图中的外盖之延面凹槽部位,显示当安装有按键及弹性构件时的上视图。第8图系针对第5图中的外盖之延面凹槽部位,显示当外盖上未安装按键时的延面凹槽之上视图。
地址 台北县汐止市新台五路一段八十八号二十一楼
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