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Integrierter Schaltkreis mit eine zu testenden Applikationsschaltung (1) und einer Selbsttest-Schaltung (5-16), welche zum Testen der Applikationsschaltung (1) vorgesehen ist und welche eine Anordnung (5-9) zur Erzeugung gewünschter Testmuster aufweist, die der Applikationsschaltung (1) für Testzwecke zugeführt werden, wobei die durch die Applikationsschaltung (1) in Abhängigkeit der Testmuster auftretenden Ausgangssignale mittels eines Signaturregisters (13) ausgewertet werden, wobei die Anordnung (5-9) zur Erzeugung der gewünschten Testmuster eine Bitmodifikationsschaltung (9) aufweist, welche erste Steuereingänge von Verknüpfungslogiken (6, 7, 8) einzeln so ansteuert, daß eine von einem Schieberegister (5) gelieferte Pseudo-Zufallsfolge von Testmustern so modifiziert wird, daß näherungsweise die gewünschten Testmuster entstehen, und welche zweite Steuereingänge der Verknüpfungslogiken (6, 7, 8), mittels derer die ersten Steuereingänge blockierbar sind, so ansteuert, daß diejenigen von dem Schieberegister (5) gelieferten Testmuster, bei denen es sich bereits um gewünschte Testmuster handelt, nicht durch die Bitmodifikationsschaltung (9) mittels Ansteuerung der ersten Steuereingänge der Verknüpfungslogiken (6, 7, 8) modifiziert werden.
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