| 发明名称 | 具有防错装置的集成电路元件测试插座组 | ||
| 摘要 | 一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中测试插座本体上形成有一凹槽及多数个防呆销插置孔洞，并使多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销分别插置于多数个防呆销插置孔洞内，使待测集成电路元件以正确的方位置于测试插座本体的凹槽内，以避免待测集成电路元件在进行电性功能测试作业时，损坏待测集成电路元件及测试作业设备。 | ||
| 申请公布号 | CN2574253Y | 申请公布日期 | 2003.09.17 |
| 申请号 | CN02282825.7 | 申请日期 | 2002.10.14 |
| 申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 黄耀奎 |
| 分类号 | H01R13/64;H01R33/76;G01R1/073 | 主分类号 | H01R13/64 |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 高龙鑫;楼仙英 |
| 主权项 | 1、一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，它包括：一测试插座本体，其上形成有一凹槽用于容置一待测集成电路元件及多数个与该凹槽相连通的防呆销插置孔洞；及多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销，其分别插置于该测试插座本体的防呆销插置孔洞内。 | ||
| 地址 | 中国台湾 | ||