发明名称 | 半导体激光器件及其制造方法以及光盘再现和记录设备 | ||
摘要 | 在于650℃的生长温度下,层叠多重应变量子阱有源层105的GaAsP构成垒层后,立即层叠AlGaAs构成的第二上导向层126。在温度保持在适合P基层生长的生长温度下,即650℃下生长该第二上导向层126。通过减少来自垒层的P解吸,使垒层与第二上导向层126之间的界面粗糙度减小到20或小于20。然后层叠第一上导向层106。该第一上导向层106的生长温度在开始时是650℃,该生长温度随着生长而升高,直到生长结束时温度达到750℃为止。 | ||
申请公布号 | CN1442934A | 申请公布日期 | 2003.09.17 |
申请号 | CN02161130.0 | 申请日期 | 2002.12.18 |
申请人 | 夏普公司 | 发明人 | 蛭川秀一 |
分类号 | H01S5/343;G11B7/00 | 主分类号 | H01S5/343 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波;侯宇 |
主权项 | 1.一种半导体激光器件,包括:依次在GaAs衬底上的,至少第一导电类型的下盖层、下导向层、由至少一层阱层和至少两层垒层构成的量子阱有源层、上导向层和第二导电类型的上盖层,其中多个层中的至少一层是由含有作为V族元素的P的III-V族化合物半导体构成的P基层,并且与该P基层邻近的层是由不含P但含As作为V族元素的III-V族化合物半导体构成的As基层,以及该P基层与As基层之间的界面的粗糙度不大于20。 | ||
地址 | 日本大阪府 |