发明名称 |
矢量网络分析器的改进校准 |
摘要 |
矢量网络分析器的改进校准方法存储稀疏校准数据,利用从矢量网络分析器进行的每个测量的稀疏校准数据进行内插得到系统误差数据,以及从每个测量频率上的系统误差数据和未校正测量数据创建校准的测量数据。可通过测量大于指定测量频率范围的校准频率范围上每第N个频率步长,或者通过测量校准频率范围上的每个频率步长并压缩所得到的测量数据,从而产生稀疏校准数据。可通过使用诸如参数多项式曲线拟合算法的曲线拟合算法实现内插。 |
申请公布号 |
CN1442704A |
申请公布日期 |
2003.09.17 |
申请号 |
CN03120290.X |
申请日期 |
2003.03.05 |
申请人 |
特克特朗尼克公司 |
发明人 |
T·C·希尔;X·陈;S·J·马托斯;L·J·维尔曼;K·L·贝尔纳德;L·F·古姆 |
分类号 |
G01R35/00 |
主分类号 |
G01R35/00 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
杨凯;张志醒 |
主权项 |
1.一种校准下述类型的矢量网络分析器的改进方法,所述矢量网络分析器在小于所述矢量网络分析器的总频率范围的用户指定测量频率范围上以离散频率步长进行测量,并采用从参考阻抗产生的校准数据来校正所述测量,所述方法包括以下步骤:将所述矢量网络分析器的校准频率范围上的稀疏校准数据存储为所述校准数据,所述校准频率范围大于所述用户指定测量频率范围;对于所述矢量网络分析器进行的每个测量,利用所述稀疏校准数据进行内插得到详细系统误差数据;以及采用所述详细系统误差数据校正每个测量,以便提供校准的测量。 |
地址 |
美国俄勒冈州 |