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发明名称
用于整合式光波导电路之晶圆级测试之方法及装置
摘要
本发明揭示一种测试平面光波导电路的方法,藉由将一光探针耦合至平面光波导电路而实现。在一项具体实施例中,第二探针与第一探针结合使用,藉由发送和接收通过平面光波导电路之光束,而测试该平面光波导电路。
申请公布号
TW200304000
申请公布日期
2003.09.16
申请号
TW091135826
申请日期
2002.12.11
申请人
英特尔公司
发明人
迪米区E 尼克诺夫;马克T 马科尔迈可
分类号
G02B6/24
主分类号
G02B6/24
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
美国
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