发明名称 用于整合式光波导电路之晶圆级测试之方法及装置
摘要 本发明揭示一种测试平面光波导电路的方法,藉由将一光探针耦合至平面光波导电路而实现。在一项具体实施例中,第二探针与第一探针结合使用,藉由发送和接收通过平面光波导电路之光束,而测试该平面光波导电路。
申请公布号 TW200304000 申请公布日期 2003.09.16
申请号 TW091135826 申请日期 2002.12.11
申请人 英特尔公司 发明人 迪米区E 尼克诺夫;马克T 马科尔迈可
分类号 G02B6/24 主分类号 G02B6/24
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国