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发明名称 A METHOD FOR MEASURING THE CONCENTRATION OF IMPURITIES IN HELIUM BY ION MOBILITY SPECTROMETRY
摘要
申请公布号 KR20030072590(A) 申请公布日期 2003.09.15
申请号 KR20037009085 申请日期 2002.01.08
申请人 发明人
分类号 G01N27/62;G01N27/64 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
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