Method for analyzing bulk metallic impurities in bulk of silicon wafer,申请号KR20070098701-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	Method for analyzing bulk metallic impurities in bulk of silicon wafer
摘要
申请公布号	KR100906279(B1)	申请公布日期	2009.07.06
申请号	KR20070098701	申请日期	2007.10.01
申请人		发明人
分类号	H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

隔厅柜(Q7U001)

茶杯(财神响杯)