| 主权项 |
1.一种测试积体电路信号之测试装置,用以测试一积体电路,包括:一测试输出装置,用以放置该积体电路且电性耦接该积体电路,并输入复数个测试信号至该积体电路,使得该积体电路产生一测试结果信号;以及一测试接收装置,电性耦接该积体电路,用以取得该测试结果信号。2.如申请专利范围第1项所述之测试积体电路信号之测试装置,测试接收装置更包括:一波形显示器,显示该测试结果信号之波形。3.如申请专利范围第1项所述之测试积体电路信号之测试装置,该测试输出装置系一测试台。4.如申请专利范围第1项所述之测试积体电路信号之测试装置,其中该测试接收装置更包括一测试探针,该测试探针电性耦接至该积体电路以取得该测试结果信号。5.一种测试积体电路信号之测试方法,用以测试一积体电路,包括以下步骤:提供可承载该积体电路之一测试输出装置;提供一测试接收装置;该测试输出装置输入复数个测试信号至该积体电路;以及该测试接收装置取得该积体电路之一测试结果信号。图式简单说明:第1图绘示系根据电子束测试积体电路之装置;第2图绘示系测试探针测试积体电路之装置;第3图绘示系测试积体电路之类比信号之测试装置;以及第4图绘示测试积体电路之信号之测试方法的流程图。 |
