| 主权项 |
1.一种用于在一元件上进行环境测试之装置,其系包含:一个界定一用于容纳该元件于其中的测试室之柜;一个用于在该测试室中产生所要的气候条件之气候调节单元;用于隔离该元件与该气候调节单元并且限制预设的波在其间的通过之隔离结构;以及一个延伸进入到该测试室之中用于监视其中的温度之热电耦,该热电耦系部分地被一个隔离管所围绕以限制由该热电耦所产生的干扰进入到该测试室,该隔离管系包含一防止电磁波通过其间之第一内部层以及一第二外部层。2.如申请专利范围第1项之装置,其中该隔离结构系包含一个围绕该元件的屏蔽壳体,该屏蔽壳体系可容纳于该测试室中。3.如申请专利范围第2项之装置,其中该壳体系由一种电磁波吸收材料所构成。4.如申请专利范围第2项之装置,其中该壳体系由一种无线电波吸收材料所构成。5.如申请专利范围第2项之装置,其中该壳体系包含复数个开口在其中,以容许气流经过其间。6.如申请专利范围第1项之装置,其中该隔离结构系包含一个位于该气候调节单元与该元件之间的遮蔽。7.如申请专利范围第1项之装置,其中该内部层系由复数个铁氧体区段所构成的。8.一种用于在一元件上进行环境测试之装置,其系包含:一个界定一用于容纳该元件于其中的测试室之柜;一个门,其系被枢转地安装至该柜,并且可移动在一第一开启位置与一第二关闭位置之间,该第一开启位置系容许进入到该测试室,并且该第二关闭位置系阻止进入到该测试室;用于当该门系处于该关闭位置时,密封该门与柜之交接处之门密封结构;一个用于在该测试室中产生所要的气候条件之气候调节单元;以及用于隔离该元件与该气候调节单元之隔离结构,该隔离结构系限制预设的波通过其间并且包含一个位于该测试室之内、在该气候调节单元与该元件之间的遮蔽,该遮蔽系包含一个屏蔽部分。9.如申请专利范围第8项之装置,其更包含一个延伸进入到该测试室之中用于监视其中的温度之热电耦,该热电耦系部分地被一个隔离管所围绕以限制由该热电耦所产生的干扰进入到该测试室。10.如申请专利范围第8项之装置,其中该遮蔽系围绕该元件。11.如申请专利范围第8项之装置,其中该遮蔽系由一种电磁波吸收材料所构成。12.如申请专利范围第8项之装置,其中该遮蔽系由一种无线电波吸收材料所构成。13.如申请专利范围第8项之装置,其中该遮蔽系位在该测试室之中,该遮蔽系将该测试室分割成为一用于容纳该气候调节单元于其中之第一部分以及一用于容纳该元件于其中之第二部分。14.如申请专利范围第13项之装置,其更包括一个延伸在该遮蔽的外侧周边之一部份的附近之遮蔽密封结构,该遮蔽密封结构系防止电磁与无线电波通过其间。15.一种用于在一元件上进行环境测试之装置,其系包含:一个界定一用于容纳该元件于其中的测试室之柜;一个门,其系被枢转地安装至该柜,并且可移动在一第一开启位置与一第二关闭位置之间,该第一开启位置系容许进入到该测试室,并且该第二关闭位置系阻止进入到该测试室;用于当该门系处于该关闭位置时,密封该门与柜之交接处之门密封结构;一个用于在该测试室中产生所要的气候条件之气候调节单元;以及用于隔离该元件与该气候调节单元之隔离结构,该隔离结构系限制预设的波通过其间并且包含一个位于该测试室之内、在该气候调节单元与该元件之间的遮蔽,该遮蔽系包含复数个排列成蜂巢状之配置的通道,该些通道系容许气流通过其间。16.如申请专利范围第15项之装置,其中该遮蔽系由一种电磁波吸收材料所构成。17.如申请专利范围第15项之装置,其中该遮蔽系由一种无线电波吸收材料所构成。18.如申请专利范围第15项之装置,其中该遮蔽系包含复数个开口于其中,以便于让气流通过其间。19.如申请专利范围第15项之装置,其中该遮蔽系包含一屏蔽部分。20.如申请专利范围第15项之装置,其中该遮蔽系将该测试室分割成为一用于容纳该气候调节单元于其中之第一部分以及一用于容纳该元件于其中之第二部分。21.如申请专利范围第20项之装置,其更包括一个延伸在该遮蔽的外侧周边之一部份的附近之遮蔽密封结构,该遮蔽密封结构系防止电磁与无线电波通过其间。图式简单说明:图1是根据本发明之一环境测试室的前视等角图;图2是图1的环境测试室之后前视等角图;图3是图1的环境测试室之后前视等角图,其中该室的门处于开启的位置下;图4是显示本发明的环境测试室在部分剖开之下的侧面图;图5是显示图4的环境测试室之一部份的放大后之侧面图;图6是沿着图5的线段6-6所取的放大后之侧面图;图7用于图6的环境测试室之遮蔽的一部份之放大后的剖面图;图8是显示用于本发明的环境测试室之例示的气候调节单元在部分剖开之下的前视图;图9是显示本发明的环境测试之在部分为剖面之下的俯视图;图10是显示用于本发明的环境测试室之电磁与射频遮蔽的放大后之仰视图;图11是用于被安装在本发明的环境测试室之内部腔室之中的电磁与射频遮蔽之安装架的等角图;图12是沿着图9的线段12-12所取的放大后之侧面图;图13是显示用于与本发明的环境测试室一起使用之热电耦的剖面图;图14是显示用于本发明的环境测试室之输入埠之放大后的剖面图;图15是显示本发明的环境测试室之第一种替代的实施例之剖面图;并且图16是本发明的环境测试室之第二种替代的实施例之前视等角图。 |
